美國 inTEST ThermoStream 高低溫沖擊測試機(jī)提供 -100°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足各類電源管理芯片的高低溫沖擊測試.
在電源管理芯片可靠性測試方面, 美國 inTEST ThermoStream ATS 系列熱流儀有著不同于傳統(tǒng)高低溫箱的優(yōu)勢:
變溫速率快, 每秒快速升溫 / 降溫18°C
通過 ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證
實(shí)時監(jiān)測待測元件真實(shí)溫度, 可隨時調(diào)整沖擊氣流溫度
針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
滿足研發(fā)和大規(guī)模量產(chǎn)要求
可與愛德萬 advantest, 泰瑞達(dá) teradyne, 惠瑞捷 verigy 等各類測試儀聯(lián)用.
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inTEST 熱銷型號
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ATS-545
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ATS-710E
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ATS-535
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溫度范圍 °C
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-75 至 + 225
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-75至+225
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-60 至 +225
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變溫速率
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-55 至 +125°C 約 10
S +125 至 -55°C 約 10 S
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-55 至 +125°C 約 10 s +125 至 -55°C 約 10 s
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-40至+ 125°C < 12 s +125至-40°C < 40 s
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空壓機(jī)
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額外另配
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額外另配
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內(nèi)部集成空壓機(jī)
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控制方式
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旋鈕式
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觸摸屏
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旋鈕式
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氣體流量 scfm
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4 至 18
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4 至 18
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5
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溫度顯示和分辨率
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+/- 0.1°C
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溫度精度
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1.0°C（根據(jù) NIST 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)時）
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電源管理芯片高低溫沖擊測試案例: 應(yīng)用于電子消費(fèi)品行業(yè)的電源芯片, 下圖為實(shí)際的被測電源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通電的情況下進(jìn)行溫度測試.
測試溫度范圍﹣60℃ - 150℃, 進(jìn)行 12組不同形式的循環(huán)溫度設(shè)定.
使用型號: inTEST ATS-545
電源管理芯片高低溫沖擊測試案例: 應(yīng)用于汽車電子行業(yè)的電源管理芯片, 在電測試時, 同時搭配測試儀, 設(shè)定不同的溫度數(shù)值, 檢查不同溫度下電源芯片各項(xiàng)功能是否正常. 通過使用美國 inTEST 熱流儀, 大幅提高工作效率, 并能及時評估研發(fā)過程中的潛在問題.
測試溫度范圍: -40℃ - 80 ℃
使用型號: inTEST ATS-710E
電源管理芯片高低溫沖擊測試案例: 應(yīng)用于電力系統(tǒng)的電源管理芯片, 因客戶研發(fā)場地受限, 無法使用空壓機(jī), 選用 ATS-535 內(nèi)部集成空壓機(jī)的高低溫沖擊機(jī)進(jìn)行測試.
測試溫度范圍: -60℃ - 150 ℃
使用型號: inTEST ATS-535
電源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 是在電子設(shè)備系統(tǒng)中擔(dān)負(fù)起對電能的變換, 分配, 檢測及其他電能管理職責(zé)的芯片. 在電源的設(shè)計(jì)中, 需要用到各種形式的管理芯片, 在電測試下, 隨著電源溫度的變化, 需要保證芯片的正常運(yùn)轉(zhuǎn), 一般芯片的溫度越高, 可靠度越低, 失效率就會變高. 因此在芯片的設(shè)計(jì)之初就要考慮溫度問題.
70年代成立至今, 美國 inTEST Thermal Solutions 超過 50 年的研發(fā)生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn), 經(jīng)過多年市場實(shí)踐的高可靠性和穩(wěn)定性, 滿足各類電子芯片的測試要求. inTEST 已收購 Thermonics 和 Temptronic.