微區X射線熒光分析儀
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產品名稱: 微區X射線熒光分析儀
產品型號: Atlas
產品展商: 英國愛丁堡公司 Edinburgh Instruments
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
微區X射線熒光分析儀Atlas，作為一款能量色散型X射線熒光分析儀（EDXRF），Atlas的空間分辨率、操作自動化，束斑尺寸等諸多性能指標表現優異，目前Atlas有兩個型號M和X（尺寸更大）。
微區X射線熒光分析儀
的詳細介紹
電路板的X射線面分布圖，（Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn）
介紹：
IXRF專注于精準地微區痕量元素分析產品，包括齊全的能譜儀（EDS）和X射線熒光（XRF）。
在硬件方面，作為一款臺式XRF，Atlas-M型號的體積為890×560×560mm，具有較大的樣品倉體積，相對應的是較大的樣品臺行程以及zui重的載重量，而與此同時，卻可以將樣品臺的移動速度提升到300mm/s，移動精度≤1μm。
其采用的毛細管聚焦技術，可將束斑縮至5μm，另外也可通過選用準直器等配件，使束斑在5μm—1000μm之間的范圍內可調；其多大8片的濾波片選擇，可滿足更多的分析需求。
在軟件方面，作為曾因其軟件研發能力而獲得英國政府頒發的千禧年大獎的公司，IXRF在Atlas操作軟件的開發上沿襲了其一貫的專業性及開放性。
在數據的獲取及處理上，可實現數據的一鍵采集，或自動或手動的鑒別樣品成分，并利用FP建模或quantitative match等功能實現樣品成分的定量分析；在圖像處理方面，不僅可對獲取的圖像進行拼接，還可實現相分析、特征顆粒篩選、特征顆粒形態學上的測量及成分分析等功能；在面分布及線掃描方面，可同時獲得多達35種元素的信息，并且實現單像素的譜圖數據采集，并可完全保存下來，后續仍可繼續對此數據進行點線面等處理。
在應用方面，可在各種環境，如大氣、真空以及氦氣等氣氛下分析多種類的樣品，無論是固體、液體、顆粒、粉末，樣品大小，拋光與否，表面粗糙與否皆可輕松勝任，且實現無損分析。
鑒于Atlas的突出的性能特點，其被廣泛的應用到地礦文博、電子器件、環境監測、刑偵醫學、醫藥檢測等方面。
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樣品類型
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固、液、顆粒、粉末
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測試介質
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空氣、真空、氦氣
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激發源
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12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA
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激發源參數：
靶材
束班尺寸
濾片
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多毛細管或準直器
銠（其他可選）
5μm-1000μm連續可調
8片
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探測器
分辨率
活區面積
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SDD
135-145ev
50-150mm2
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樣品臺
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X、Y、Z三軸可動
320X320mm可移動范圍
載重10Kg
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Mapping*大尺寸
樣品移動速度
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220X200mm
300mm/s
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元素分析范圍
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Na-U
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特點：
1、 束斑尺寸zui小可達5μm；
2、 大樣品臺行程（320×320×120mm），移動速度可達300mm/s；
3、 多達8片的濾波片選擇；
應用領域：
1、 地礦文博；
2、 電子器件；
3、 刑偵醫學；
4、 醫藥檢測；
5、 環境監測。