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5G 通訊模塊高低溫沖擊測(cè)試: 5G 模塊在出廠前需要做測(cè)試, 主要包括內(nèi)部關(guān)鍵器件在電工作的電性能測(cè)試, 失效分析, 可靠性評(píng)估等, 也會(huì)模擬在運(yùn)輸, 存儲(chǔ)過(guò)程中的不通電溫度沖擊測(cè)試,來(lái)驗(yàn)證是否在不同溫度沖擊和持續(xù)溫度下, 對(duì) 5G 模塊的焊點(diǎn), 涉及到的材料老化程度進(jìn)行合規(guī)性觀測(cè)和質(zhì)量驗(yàn)收, 同時(shí)也會(huì)對(duì)正在開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品進(jìn)行不同溫度持續(xù)性或沖擊性測(cè)試用來(lái)指定存儲(chǔ)或者運(yùn)輸, 或者工藝安裝等方面的溫度規(guī)范等.
針對(duì)客戶提出的測(cè)試要求, 提供 5G 模塊高低溫測(cè)試解決方案
inTEST 熱流儀可提供的溫度范圍為 -100℃ 至 +300°C, 溫度精度 ±1℃, 可以對(duì)客戶開(kāi)發(fā)打樣產(chǎn)品固定在電路治具中, 模擬設(shè)定不同溫度, 對(duì)應(yīng)來(lái)觀察 5G 模塊運(yùn)行的相關(guān)參數(shù)的功能是否良好或達(dá)標(biāo). 同時(shí) inTEST 可實(shí)現(xiàn)快速切換不同溫度條件. 可以提高測(cè)試的效率. 通過(guò) IEEE 或 RS 232 實(shí)現(xiàn)電腦連接和控制, 對(duì)測(cè)試的自動(dòng)化和無(wú)人值守提供了便捷.
inTEST 推薦型號(hào) |
ATS-545 |
ATS-710E |
ATS-535 |
圖片 |
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溫度范圍 °C |
-75 至 + 225 |
-75至+225 |
-60 至 +225 |
變溫速率 |
-55 至 +125°C 約 10 S +125 至 -55°C 約 10 S |
-55 至 +125°C 約 10 s +125 至 -55°C 約 10 s |
-40至+ 125°C < 12 s +125至-40°C < 40 s |
空壓機(jī) |
額外另配 |
額外另配 |
內(nèi)部集成空壓機(jī) |
控制方式 |
旋鈕式 |
觸摸屏 |
旋鈕式 |
氣體流量 scfm |
4 至 18 |
4 至 18 |
5 |
溫度顯示和分辨率 |
+/- 0.1°C |
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溫度精度 |
1.0°C(根據(jù) NIST 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)時(shí)) |