inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測(cè)試
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產(chǎn)品名稱: inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品展商: inTEST ThermoStream
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簡(jiǎn)單介紹
隨著國家對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)愈加重視, 國內(nèi)各高校通過積極籌備半導(dǎo)體聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室等舉措來推動(dòng)集成電路的產(chǎn)業(yè)研究和人才教育的發(fā)展, 美國 inTEST ThermoStream熱流儀提供清潔干燥的冷熱循環(huán)沖擊氣流, 可達(dá)到快速精準(zhǔn)的測(cè)試溫度, 適合模擬各種溫度測(cè)試和調(diào)節(jié)的應(yīng)用, 獲得高校普遍認(rèn)可, 已廣泛參與集成電路研發(fā)重點(diǎn)項(xiàng)目的研究.
inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測(cè)試
的詳細(xì)介紹
inTEST 熱流儀應(yīng)用于集成電路科研項(xiàng)目案例: 國內(nèi)某高校選用 inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) ATS-545 用于研發(fā)高性能微處理器, 網(wǎng)絡(luò)通信芯片, 功率器件, 藍(lán)牙芯片等科研項(xiàng)目. 如工業(yè)級(jí) ICU 芯片要求測(cè)試溫度 -40℃ 至 110℃, 溫變速率 -50℃ 至 125℃≤10s, 在帶電情況下, 分別設(shè)置高溫, 常溫, 低溫進(jìn)行溫度循環(huán).
ATS-545-M
溫度范圍 °C: -75 至 + 225(50 HZ)
變溫速率: -55至 +125°C
約 10 S 或更少
+125至 -55°C
約 10 S 或更少
輸出氣流量: 4 至 18 scfm
溫度精度: ±1℃ 通過美國NIST 校準(zhǔn)
溫度顯示分辨率: ±0.1℃
溫度傳感器: T或K型熱電偶
防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻
美國 inTEST 熱流儀通過每秒快速升溫或降溫 18°C, 對(duì) PCB 電路板中的某一單個(gè) IC (模塊) 或整塊集成電路提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度. 與傳統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱不同的是 inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè) IC (模塊)可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件.