目前，很多半導(dǎo)體器件必須長(zhǎng)時(shí)間工作在高低溫等各種惡劣環(huán)境下，高低溫失效問題變得越來越嚴(yán)重。要針對(duì)分立元器件的高低溫失效問題，研究低溫環(huán)境下器件的電特性規(guī)律和各種參數(shù)隨溫度變化規(guī)律。 因此，高低溫環(huán)境的設(shè)定和保持對(duì)半導(dǎo)體器件來說十分重要，直接影響著它正常運(yùn)行的可行性和數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。捷龍本身作為一種快速、控溫精確的高低溫沖擊系統(tǒng)，相比于傳統(tǒng)的溫控測(cè)試箱，可對(duì)半導(dǎo)體器件溫度循環(huán)測(cè)試或者高低溫沖擊，升降溫速率非常迅速，如-55℃至+125℃只需7s即可實(shí)現(xiàn)，可對(duì)待測(cè)試樣的局部區(qū)域進(jìn)行溫度沖擊測(cè)試而不影響其他區(qū)域，并且可對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)load board上的IC進(jìn)行溫度實(shí)驗(yàn)。因此，通過使用捷龍高低溫沖擊系統(tǒng)，能完美的對(duì)半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行溫控測(cè)試，考察其承受極限高低溫的能力，以及在極端高溫與極端低溫交替變化對(duì)器件的影響。

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